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    1

    自動化高亮度發光二極體瑕疵檢測系統之開發與研究
    • 材料科學與工程系 /97/ 碩士
    • 研究生: 劉宗憲 指導教授: 郭中豐
    • 本研究提出一套發光二極體自動瑕疵檢測系統,利用各種數位影像處理技術於晶粒瑕疵辨識中。檢測項目包含正常晶粒、破晶、電極區刮痕瑕疵、電極區殘金瑕疵、發光區刮痕瑕疵與發光區剝落瑕疵。 本研究主題分…
    • 點閱:603下載:0
    • 全文公開日期 2014/08/04 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    2

    應用自動化光學檢測技術於3D立體光學膜微觀瑕疵辨識系統之開發與研究
    • 自動化及控制研究所 /100/ 碩士
    • 研究生: 林伯彥 指導教授: 郭中豐
    • 因目前3D顯示領域逐漸盛行,而其中光學薄膜部分因具有微結構,檢測上較一般薄膜困難,故本研究擬開發一套3D立體光學膜自動瑕疵檢測系統,欲檢測目前產線上所產生之瑕疵(直刻痕、橫刻痕、異物、壓點及紋理缺陷…
    • 點閱:171下載:1
    • 全文公開日期 2017/08/03 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    3

    模糊影像處理技術應用於薄膜電晶體液晶顯示器面板瑕疵檢測之研究
    • 自動化及控制研究所 /97/ 碩士
    • 研究生: 蘇泰元 指導教授: 郭中豐
    • 薄膜電晶體液晶顯示器(thin film transistor-liquid crystal display, TFT-LCD)的液晶胞製程(liquid crystal cell process)…
    • 點閱:236下載:7

    4

    應用適應性模板建立技術於發光二極體晶粒微影圖樣之研究及驗證
    • 材料科學與工程系 /102/ 碩士
    • 研究生: 洪政郁 指導教授: 郭中豐
    • 本研究針對發光二極體晶粒之表面微影圖樣進行適應性模板建立並檢測其圖樣正確性之研究。由於產業界之自動化檢測為達到產線上高產能,在演算法系統開發上大都採以標準模板進行瑕疵比對以達高檢測速度,而在實際晶粒…
    • 點閱:209下載:0
    • 全文公開日期 2019/08/05 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    5

    應用影像處理技術及最佳化多類支持向量機於發光二極體晶粒表面色差與微瑕疵檢測系統之開發與研究
    • 自動化及控制研究所 /100/ 碩士
    • 研究生: 東峻平 指導教授: 郭中豐
    • 本研究『應用影像處理技術及最佳化多類支持向量機於發光二極體晶粒表面色差與微瑕疵檢測系統之開發與研究』主要針對晶粒(Chip)製程的檢測階段進行自動化系統之最佳化設計,包含晶粒色差(Color Abe…
    • 點閱:206下載:2
    • 全文公開日期 2017/08/03 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

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    太陽光電熱能複合系統之最佳化參數設計與實務驗證
    • 自動化及控制研究所 /100/ 碩士
    • 研究生: 劉瑞民 指導教授: 郭中豐
    • 本研究為太陽光電熱能複合系統(PV/T)之最佳化參數設計,主要探討PV/T設計參數與品質特性之關係,PV/T的兩個品質特性分別為發電效率與儲熱效率,而設計及製造PV/T時,影響PV/T的重要參數為集…
    • 點閱:296下載:7
    • 全文公開日期 2017/08/03 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)
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